镀层测厚仪
设备功能：
ledx-150T镀层测厚仪采用非真空样品腔,专业用于PCB镀层厚度，金属电镀镀层分析:可增加合金成份分析及RoHS功能;应用于金属电镀镀层分析领域。
- 技术参数
- 产品概述
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分类 |
详细 |
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镀层范围 |
多镀层，1~5层 |
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元素分析范围 |
从铝(A1)到铀(U) |
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测量时间 |
1-120秒 |
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探测器 |
SDD探测器，能量分辨率为125±5 eV |
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探测器Be窗 |
05mi1(12.7μm) |
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检测 |
微焦X射线管50KV/1mA，钼，铑靶(高配微焦钼靶) |
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准直器 |
6个准直器及多个滤光片自动切换 |
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平台 |
XYZ三维移动平台，最大荷载为5公斤 |
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监控 |
高清CCD摄像头(200万像素)，精确监控位置 |
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测试筛选 |
多变量非线性去卷积曲线拟合 |
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检测分析 |
高性能FP/MLSQ分析 |
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仪器尺寸 |
618*525*490mm |
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平台移动范围 |
160*160*100mm |
苏公网安备32050702011506号