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晶圆测厚仪

快速准确的对晶圆厚度进行检测,是制作晶圆中非常重要的环节,目前传统测量方式效率较低,且存在给晶圆造成污染的风险。本设备使用方便,测量精度高,测量效率较高,且不会对晶圆造成损伤。

  • 技术参数
  • 产品概述

设备技术参数

设备尺寸

L1400*W1000*H2100

设备重量

1200KG

设备功率

1000W

设备电压

AC220V

最大晶圆尺寸

12’

显示器

17’

测量精度

±1μm